HJ 829-2017 環(huán)境空氣 顆粒物中無(wú)機元素的測定 能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法

1 適用范圍

本標準規定了測定環(huán)境空氣和無(wú)組織排放顆粒物中無(wú)機元素的能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法。

本標準適用于利用濾膜采集的環(huán)境空氣和無(wú)組織排放顆粒物中鈉（Na）、鎂（Mg）、鋁（AI）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、鉀（K）、鈣（Ca）、鈧（Sc）、鈦 (Ti）、釩（V）、鉻（Cr）、錳（Mn）、鐵（Fe）、鉆（Co）、鎳（Ni）、銅（Cu）、鋅（Zn）、砷（As）、硒（Se）、銀（Sr）、溴（Br）、鎘（Cd）、鋇（Ba）、鉛（Pb）、錫（Sn）、銻（Sb）等元素的測定。
      本標準也適用于經(jīng)方法驗證能夠達到準確度和精密度要求的其他無(wú)機元素。

在本標準推薦的各元素特征譜線(xiàn)條件下，方法檢出限及測定下限見(jiàn)附錄A。

2 規范性引用文件

      本標準引用了下列文件中的條款。凡是不注明日期的引用文件，其有效版本適用于本標準。

      HJ 93 環(huán)境空氣顆粒物（PM₁₀和PM_2.5）采樣器技術(shù)要求及檢測方法

      HJ 664 環(huán)境空氣質(zhì)量監測點(diǎn)位布設技術(shù)規范（試行）

      HJ/T 55 大氣污染物無(wú)組織排放監測技術(shù)導則

      HJ/T 194 環(huán)境空氣質(zhì)量手工監測技術(shù)規范

      HJ/T 374 總懸浮顆粒物采樣器技術(shù)要求及檢測方法

3 方法原理

X射線(xiàn)管產(chǎn)生的初級X射線(xiàn)照射到平整、均勻的顆粒物樣品表面上時(shí)，被測元素釋放出特征X射線(xiàn)熒光直接進(jìn)入檢測器。經(jīng)電子學(xué)系統處理得到不同能量（元素）的X射線(xiàn)熒光能譜。采用全譜圖擬合或特定峰面積積分的方式獲取特征X射線(xiàn)熒光強度。顆粒物負載量在一定范圍內，采用薄樣品分析技術(shù)，被測元素特征譜峰強度與其含量成正比。

4 干擾和消除

通常采用全譜圖擬合或特定峰面積積分兩種方式獲取強度。元素含量較低且無(wú)干擾時(shí)，可選某區間特定譜峰凈面積方式獲取強度。存在干擾時(shí)，應采用全譜圖擬合方法對重疊譜峰進(jìn)行解析，扣除干擾峰的影響，得到目標元素特征譜峰強度。干擾元素擬合解析示例參見(jiàn)附錄B表B.4。

5 試劑和材料

5.1 負載在聚酯膜（Mylar film）或聚碳酸酯核孔膜（Nuclepore polycarbonate membranes）上的單元素或化合物標準樣品，（0.5~50）μg/cm²,以單元素含量計。

更多標準內容點(diǎn)擊以下鏈接獲取標準全文：

下載地址：《HJ 829-2017 環(huán)境空氣 顆粒物中無(wú)機元素的測定 能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法》