HJ 830-2017 環(huán)境空氣 顆粒物中無(wú)機元素的測定 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜法

      本標準規定了測定環(huán)境空氣和無(wú)組織排放顆粒物中無(wú)機元素的波長(cháng)色散x射線(xiàn)熒光光譜法（WD-XRF）。

      本標準適用于利用濾膜采集的環(huán)境空氣和無(wú)組織排放顆粒物中鈉（Na)、鎂(Mg)、鋁（Al)、硅（Si)、磷(P)、硫（S)、氯(Cl)、鉀（K)、鈣（Ca)、鈧(Sc)、鈦 (Ti)、釩（V)、鉻（Cr)、錳（Mn)、鐵（Fe)、鈷（Co)、鎳（Ni)、銅(Cu)、鋅（Zn)、砷（As)、硒（Se)、銀(Sr)、溴(Br)、鎘(Cd)、鋇（Ba)、鉛（Pb)、錫（Sn)、銻（Sb)等元素的測定。本標準也適用于經(jīng)方法驗證能夠達到準確度和精密度要求的其他無(wú)機元素。

      在本標準推薦的各元素特征譜線(xiàn)條件下，方法檢出限及測定下限見(jiàn)附錄A。 

2 規范性引用文件

      本標準引用了下列文件中的條款。凡是不注明日期的引用文件，其有效版本適用于本標準。

      HJ 93 環(huán)境空氣顆粒物（PM₁₀和PM_2.5）采樣器技術(shù)要求及檢測方法

      HJ 664 環(huán)境空氣質(zhì)量監測點(diǎn)位布設技術(shù)規范（試行）

      HJ/T 55 大氣污染物無(wú)組織排放監測技術(shù)導則

      HJ/T 194 環(huán)境空氣質(zhì)量手工監測技術(shù)規范

      HJ/T 374 總懸浮顆粒物采樣器技術(shù)要求及檢測方法

      JJG 810 波長(cháng)色散x射線(xiàn)熒光光譜儀

3 方法原理

      x射線(xiàn)管產(chǎn)生的初級x射線(xiàn)照射到平整、均勻的顆粒物樣品表面時(shí)，被測元素釋放出特征x射線(xiàn)經(jīng)晶體分光后，探測器在選擇的特征波長(cháng)相對應20角處測量x射線(xiàn)熒光強度。顆粒物負載量在一定范圍內，采用薄樣品分析技術(shù)，x射線(xiàn)熒光強度與被測元素含量成正比。

4 干擾和消除

     鉛Lα線(xiàn)對砷Kα線(xiàn)有明顯干擾?？刹捎酶蓴_元素的校正系數予以消除。校正系數由實(shí)驗確定，計算示例見(jiàn)附錄B。

5 試劑和材料

5.1 市售氫氣-甲烷混合氣體(P₁₀)，簡(jiǎn)稱(chēng)氫甲烷氣，90%氫氣+10％甲烷。

5.2 負載在聚酯膜（Mylar film）或聚碳酸酯核孔膜（Nuclepore polycarbonate membranes）上的單元素或化合物標準樣品，(0.5~50) μg/cm²，以單元素含量計。

更多標準內容點(diǎn)擊以下鏈接獲取標準全文：

下載地址：《HJ 830-2017 環(huán)境空氣 顆粒物中無(wú)機元素的測定 波長(cháng)色散X射線(xiàn)熒光光譜法》